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Esquerda para direita: Dr. Renato Di Prinzio (CGMI/CNEN), Dr. Paulo Roberto Valle Bahia (HU-UFRJ/CEDI), Dr. Luiz Antonio Ribeiro da Rosa (IRD/CNEN), Dra. Lene Holanda Sadler Veiga (IRD/CNEN), Dra. Ana Cristina Murta Dovales, Dra. Claudia Lucia de Pinho Mauricio (IRD/CNEN), Dra. Lucía Viviana Canevaro  (IRD/CNEN) e Dr. João Emílio Peixoto (INCa).

O Serviço de Ensino e o Programa de Pós-Graduação, Stricto Sensu, parabeniza Ana  Cristina Murta Dovales pela segunda tese de doutorado defendida e aprovada no dia 09 de dezembro de 2016 através do Programa de Pós-Graduação em Radioproteção e Dosimetria, Stricto Sensu, do Instituto de Radioproteção e Dosimetria com o título “Avaliação do Padrão e Tendência de Uso de Exames de Diagnóstico por Imagem no Brasil com Ênfase em Tomografia Computadorizada Pediátrica”, na área de Física Médica.

Ana Cristina Murta Dovales foi orientada por Dra. Lene Holanda Sadler Veiga (IRD/CNEN) e co-orientada por Dr. Luiz Antonio Ribeiro da Rosa (IRD/CNEN) com revisão de tese pelo Dr. Pedro Pacheco de Queiroz Filho (IRD/CNEN)  e com aprovação de tese pela banca examinadora composta por Dra. Claudia Lucia de Pinho Maurício  (IRD/CNEN), Dr. João Emílio Peixoto (INCa), Dra. Lucía Viviana Canevaro (IRD/CNEN), Dr. Paulo Roberto Valle Bahia (HU-UFRJ/CEDI) e Dr. Renato Di Prinzio (CGMI/CNEN).

Parabéns Dra. Ana Cristina Murta Dovales! Sucesso em sua nova caminhada!